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全隔離485收發(fā)芯片
SM4500(全隔離、高耐壓、小封裝、高性能全隔離485收發(fā)芯片)
微功率電源芯片
P0505FT-1W(隔離、高效、小巧、可靠微功率電源芯片)
全隔離協(xié)議轉(zhuǎn)換芯片
CSM330A(全隔離、國產(chǎn)化、高數(shù)據(jù)流量UART/SPI轉(zhuǎn)CAN芯片)

電源模塊外圍布局疏忽導(dǎo)致EMS測試失敗

保護電路主要還是取決于產(chǎn)品需要通過的測試等級,對于環(huán)境較好的一般應(yīng)用,我們模塊本身的保護基本就可以滿足要求。

圖1 電源端雷擊浪涌測試圖

但對于一些環(huán)境復(fù)雜的工業(yè)應(yīng)用場合,諸如:電力行業(yè)、工業(yè)控制、軌道交通等行業(yè),一般要求EMS等級都在4級水平。此時一般需要外加一級保護電路配合電源模塊使用。推薦電路如下:

圖2 典型外圍應(yīng)用圖

上圖典型應(yīng)用應(yīng)該很多工程師都很熟悉,在原理圖設(shè)計時都不會有什么大問題。往往問題會出在PCB布局上,下面就來分享一個由于安全距離不夠,導(dǎo)致浪涌共模測試失效的案例。

案例問題背景
  • 按上圖典型應(yīng)用設(shè)計外圍電路,大致元器件參數(shù)如下:
  • MOV1 使用型號:471KD14;
  • Lcm使用25mH,UU9.8 類型共模電感;
  • X2 電容,Cx:0.1uF/275VAC;
  • Y1 電容,Cy1,Cy2:2200pF/400VAC;

根據(jù)理論分析,此電路可以順利通過L/N對FG的2KV共模浪涌測試,但是在實際測試中發(fā)現(xiàn)經(jīng)過5~10次測試后,電源模塊出現(xiàn)損壞。

失效原因分析

經(jīng)過分析得知電源原因為內(nèi)部的壓敏電阻損壞導(dǎo)致。進行共模浪涌測試時,出現(xiàn)L、N之間的壓敏電阻損壞,此現(xiàn)象非常奇怪。后續(xù)經(jīng)過多次測試,現(xiàn)象依然存在。所以可以排除器件差異及偶然因素導(dǎo)致。

下面我們就來分析一下,損壞壓敏的能量傳輸路徑。從原理設(shè)計上看是沒有問題,另外一種情況就是耦合傳導(dǎo)路徑。經(jīng)過觀察分析,發(fā)現(xiàn)是由于電氣間隙不夠?qū)е?,測試浪涌時元器件放電導(dǎo)致模塊損壞。具體見下圖:

圖3 原理圖與實物圖對比

從上圖PCB可以看出,焊接金屬保險絲底座后,導(dǎo)致兩者之間的距離變小。從而在浪涌測試時,導(dǎo)致放電現(xiàn)象發(fā)生,最終損壞模塊內(nèi)部壓敏電阻。如在N對FG打浪涌時,能量釋放路徑見下圖:

圖4 放電瞬間浪涌能量釋放路徑

根據(jù)分析結(jié)果,將兩則之間的距離拉大后,順利通過2KV、4KV等級的共模浪涌測試。本案例中的問題極難被發(fā)現(xiàn),只有在平時設(shè)計時多注意交流側(cè)布板安全距離問題,同時選用安全可靠的電源模塊,才能節(jié)約調(diào)試與測試時間,最終得到滿足設(shè)計要求的產(chǎn)品。

圖5 高性能AC-DC電源模塊